IC ATE，全稱為 Integrated Circuit Automated Test Equipment，即芯片測驗(yàn)機(jī)臺(tái)。主動(dòng)化測驗(yàn)機(jī)臺(tái)的效果大家可想而知，快速而高效的測驗(yàn)，為IC的大量出貨做出了突出的奉獻(xiàn)。

IC主動(dòng)測驗(yàn)機(jī)臺(tái)一類是擔(dān)任芯片的測驗(yàn)，依照測驗(yàn)階段來說，分為Circuit Probing and Final test 測驗(yàn)。另一類用于芯片的固件寫入，也便是燒錄。

IC機(jī)臺(tái)都會(huì)搭載所若干個(gè)ATE測驗(yàn)座，去合作機(jī)臺(tái)的測驗(yàn)。ATE測驗(yàn)座怎么合作機(jī)臺(tái)，眾所周知，主動(dòng)機(jī)臺(tái)需求測驗(yàn)芯片，就需求有一個(gè)可以觸摸芯片焊盤或者說芯片錫球的連接器，這種連接器是ATE測驗(yàn)座。ATE測驗(yàn)座需求一對(duì)一匹配每一個(gè)焊盤點(diǎn)，觸摸，匹配特定的電性，特殊的測驗(yàn)要求等。同時(shí)合作主動(dòng)設(shè)備機(jī)構(gòu)進(jìn)行主動(dòng)壓合，然后完成測驗(yàn)。

定制這類測驗(yàn)座需求與供貨商闡明以下內(nèi)容：

測驗(yàn)芯片的尺寸，點(diǎn)位數(shù)量，距離，等，最好供給他們POD圖紙，另外，特殊的測驗(yàn)要求，例如高頻，大電流，高速讀寫等特殊要求。

關(guān)于機(jī)構(gòu)方面，需求給供貨商供給測驗(yàn)機(jī)臺(tái)拼裝ATE測驗(yàn)座的方位，預(yù)留方位，等，最好供給3D數(shù)據(jù)。也有部分公司是供貨商供給ATE測驗(yàn)座材料，客戶依照供貨商設(shè)計(jì)合作。

ATE測驗(yàn)座還需求了解測驗(yàn)的UPH,UPH即 Unit per hour,即每小時(shí)的測驗(yàn)單位數(shù)量。這個(gè)也是需求對(duì)測驗(yàn)座的要求，究竟測驗(yàn)快慢強(qiáng)度的不同，對(duì)測驗(yàn)座要求也是不同的，測驗(yàn)速度快，意味著放置迅速，測驗(yàn)座的粗限位引導(dǎo)就需求做的余量大些，合作機(jī)械手方位，也需求做出更好地躲避。